是德2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介

是德2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統(tǒng)

開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列的配置支持所有的設(shè)備類型和測試參數(shù)。

典型配置：

Model 2657A High Power System SourceMeter SMU

Model 2636B SourceMeter SMU Instrument

Model 2651A High Power System SourceMeter SMU

產(chǎn)品特性

完善的解決方案，價格實惠且性能優(yōu)異

可現(xiàn)場升級和重新配置，將PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測試儀

可配置功率電平：

? 200V 至 3kV

? 1A 至 100A

寬動態(tài)范圍：

? µV 至 3kV

? fA 至 100A

全量程容-電壓 (C-V) 能力：

? fF 至 µF

? 支持2、3 和 4 端器件

? 高達3kV DC 偏移

高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等

產(chǎn)品應(yīng)用

MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發(fā)應(yīng)用

規(guī)格參數(shù)